泰勒霍普森SURTRONIC DUO、粗糙度儀的詳細資料：

泰勒霍普森便攜式粗糙度儀測量能力

參數覆蓋：支持 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt 等基礎粗糙度參數，以及 Rq（均方根值）、Rsk（偏斜度）、Rku（峰度）等進階參數，共 11 項參數滿足不同行業標準（如 ISO 4287、ASME B46.1）。

測量范圍：Ra 可達 40μm，Rz/Rv/Rp/Rt 可達 199μm，分辨率 0.01μm，精度為讀數的 5% + 0.1μm，噪聲水平低至 0.02μm。

傳感器技術：采用壓電式傳感器和 5μm 金剛石測針，耐磨性強，適合長期高頻次使用。

設計與操作

分體式結構：顯示控制單元與驅動單元通過藍牙無線連接，可分離使用，便于測量深孔、曲面等復雜位置（如內徑 70mm 的孔或倒置表面）。

直觀界面：2.4 英寸彩色 LCD 屏幕實時顯示測量結果及輪廓圖形，支持三種顯示模式（參數 + 圖形、純參數、大字體參數）。

一鍵測量：簡化操作流程，單次測量僅需按下按鈕，結果自動計算并顯示。

泰勒霍普森SURTRONIC DUO、粗糙度儀

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